測試項(xiàng)目：a.粉末，溶液，塊狀樣品的表面形貌，厚度，粗糙度測試b.生物/纖維樣品的表面形貌c.相圖d.PFM（壓電力顯微鏡）, EFM（靜電力顯微鏡）, KPFM（表面電勢）, MFM（磁力顯微鏡）, C-AFM/PeakForce TUNA（導(dǎo)電力顯微鏡），楊氏模量/模量分布，力曲線，液下，變溫等特殊模式。

1、表面形貌和表面粗糙度：AFM可以對樣品表面形態(tài)、納米結(jié)構(gòu)、鏈構(gòu)象等方面進(jìn)行研究，獲得納米顆粒尺寸，孔徑，材料表面粗糙度，材料表面缺陷等信息，同時(shí)還能做表面結(jié)構(gòu)形貌跟蹤（隨時(shí)間，溫度等條件變化）。也可對樣品的形貌進(jìn)行豐富的三維模擬顯示，使圖像更適合于人的直觀視覺。

2、精準(zhǔn)定位如：納米片厚度/臺階高度：什么是精準(zhǔn)定位？就是需要花時(shí)間去一點(diǎn)點(diǎn)找這個(gè)地方。在半導(dǎo)體加工過程中通常需要測量高縱比結(jié)構(gòu)，像溝槽和臺階，以確定刻蝕的深度和寬度。這些在SEM 下只有將樣品沿截面切開才能測量，AFM 可以對其進(jìn)行無損的測量。AFM在垂直方向的分辨率約為0.1 nm，因此可以很好的用于表征納米片厚度。

3、相圖：作為輕敲模式的一項(xiàng)重要的擴(kuò)展技術(shù)，相位模式是通過檢測驅(qū)動微懸臂探針振動的信號源的相位角與微懸臂探針實(shí)際振動的相位角之差（即兩者的相移）的變化來成像。引起該相移的因素很多，如樣品的組分、硬度、粘彈性質(zhì)，模量等。簡單來說，如果兩種材料從AFM形貌上來說，對比度比較小，但你又非常想說明這是在什么膜上長的另外一種，這個(gè)時(shí)候可以利用二維形貌圖+相圖來說明（前提是兩種材料的物理特性較為不同，相圖有明顯對比信號才行）。

1.樣品狀態(tài)：可為粉末、液體、塊體、薄膜樣品；

2. 粉末樣品：顆粒一般不超過5微米，提供20mg，液體不少于1ml，尺寸過大請?zhí)崆白稍児ぷ魅藛T；

3.粉末/液體樣品請務(wù)必備注好制樣條件，包括分散液，超聲時(shí)間及配制濃度；

4.薄膜或塊狀樣品尺寸要求：長寬0.5-75px之間，厚度0.1-25px之間，表面粗糙度不超過5um，一定要標(biāo)明測試面！塊狀樣品需要固定好，避免在寄送過程產(chǎn)生晃動或摩擦影響測試結(jié)果！

5.測試PFM、KPFM、C-AFM、PeakForce TUNA的材料需要將樣品制備在導(dǎo)電基底上，基底大小大于0.5*12.5px，KPFM、C-AFM、PeakForce TUNA的樣品需要導(dǎo)電或至少為半導(dǎo)體；

6. PFM，KPFM測試需要樣品表面十分平整，樣品厚度在10-200nm之間，粉末樣品測試很難測到較好結(jié)果，下單前請確保風(fēng)險(xiǎn)可接受；