產(chǎn)品詳情
可對(duì)應(yīng)硅片的內(nèi)部缺陷檢測(cè)。
【內(nèi)部檢測(cè)】:當(dāng)線性光照射硅片時(shí),會(huì)穿透硅片。如果硅片內(nèi)部有PIN HOLE則會(huì)減少透光量。通過測(cè)量透光量來檢測(cè)硅片內(nèi)部的缺陷。
【缺陷種類】:PIN HOLE
【生產(chǎn)能力】;每片檢測(cè)最快只需 25S
【菜單功能】:可編輯檢測(cè)菜單,并進(jìn)行參數(shù)保存與導(dǎo)出
【檢測(cè)范圍】:除邊緣2mm
【檢測(cè)對(duì)象】:8~12寸 拋光片&外延片