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        半導(dǎo)體熱特性試驗系統(tǒng)ST-PCX

        數(shù)量(套) 價格
        9999 1230000.00元/套
        • 最小起訂: 1套
        • 發(fā)貨地址: 陜西 西安市
        • 發(fā)布日期:2024-03-15
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        陜西天士立科技有限公司

        實名認(rèn)證 企業(yè)認(rèn)證
        • 聯(lián)系人:王偉
        • 手機(jī):13186093180
        • 電話:029-88225591
        • 營業(yè)執(zhí)照:已審核 營業(yè)執(zhí)照
        • 經(jīng)營模式: 生產(chǎn)加工-
        • 所在地區(qū):陜西 西安市
        • 家家通積分:747分

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        詳細(xì)參數(shù)
        品牌美瑞克型號ST-PCX
        類型電參數(shù)測試儀測量范圍0~2A,0.02000V~4.00000V
        精確度≤0.1%,5mA電源電壓220V
        用途Diode,BJT,MOS-FET,SCR,加工定制
        外形尺寸其他重量450KG
        產(chǎn)地陜西西安

        產(chǎn)品詳情

        半導(dǎo)體熱特性試驗系統(tǒng)ST-PCX

         

        陜西天士立科技有限公司

        專注半導(dǎo)體檢測·電學(xué)檢測·可靠性檢測·老化實驗

         

         

        半導(dǎo)體熱特性試驗系統(tǒng)ST-PCX

        基礎(chǔ)能力

        試驗對象

        各種封裝的Diode、BJT、MOS-FET、SCR、IGBT、IPM等

        試驗?zāi)芰?/b>

        1. 功率循環(huán)秒級/PCsec

        2. 功率循環(huán)分鐘級/PCmin

        3. 被動循環(huán)/TC

        4. 瞬態(tài)熱阻/Zth

        5. 穩(wěn)態(tài)熱阻/Rth

        6. K曲線/Kcurve

        試驗標(biāo)準(zhǔn)

        MIL-STD-750E、JEDEC、JESD51、AEC-Q101、AQG324、GJB128A、 IEC60747

        物理規(guī)格及環(huán)境要求

        1. 主機(jī)規(guī)格:200/W*136/D*150/H(cm)

        2. 主機(jī)質(zhì)量:<600kg

        3. 水冷卻機(jī):105/W*56/D*116/H(cm)

        4. 水冷卻機(jī):<310kg

        5. 環(huán)境溫度:5~40℃

        6. 相對濕度:不大于80%RH

        7. 電網(wǎng)環(huán)境:AC380V,三相五線(PC)

        8. MAX功率:32KW

        9. 供水要求:無雜質(zhì)自來水,<30℃

        10. 接地保護(hù):整機(jī)需要接地保護(hù)

         

        半導(dǎo)體熱特性試驗系統(tǒng)ST-PCX

        性能規(guī)格

        1. 一平臺兩試驗:一套設(shè)備同時進(jìn)行功率循環(huán)和熱測試。

        2. 熱阻分析軟件:自主軟件,具有熱瞬態(tài)測試及結(jié)構(gòu)函數(shù)分析方法。

        3. 結(jié)構(gòu)函數(shù)診斷,獲取循環(huán)過程中缺陷,對應(yīng)循環(huán)數(shù)及失效原因等。

        4. 50pA分辨率的柵極電流測試能力,范圍500pA~100uA。

        5. 柵極電壓電范圍-10V~+20V,分辨率0.1V,精度0.5%±0.25。

        6. 加熱電流:0~3000A(可分檔選),500mA分辯率,精度0.1%±0.3%。最小脈寬500ms,50ms脈沖開啟,50us脈沖關(guān)閉。支持0~12V,Vce器件導(dǎo)通電壓。

        7. 數(shù)據(jù)采集能力:3通道采集PCT和Z/Rth數(shù)據(jù)。每通道±12V輸入。每通道MAX10uV電壓分辨率,采樣時間1us、結(jié)溫精度0.01℃。

        8. 7個熱電偶溫度測量點:左右液冷板出水口2個、左右冷板上方共2個、器件殼體3個、分辯率0.1℃,精度±1%/±0.5℃。

        9. 數(shù)據(jù)監(jiān)測:記錄每個試驗通道的ICE、VCE@IH、VCE@IM、IGE、VGE、RthJc、ON\OFFTime、F(壓接型器件)循環(huán)數(shù),DeltaTj、Tjmax、Tjmin、出水口和器件外殼溫度等,可記錄數(shù)21000000次。

        10. K系數(shù):電流0~2A,精度≦0.1%+5mA,分辨率0.1mA。VF量程0.02000V~4.00000V,精度:±0.01%,顯示精度:0.00001V。恒溫系統(tǒng)20~200°℃,精度±0.5℃,分辨率0.1°℃。

        11. Zth/Rth:結(jié)溫測試采樣速度1MHz,VF測量MAX分辨率0.01mV,對應(yīng)測量結(jié)溫的精度是0.01°℃。殼溫測試采樣1KHz,精度±1%/±0.5℃??焖訇P(guān)斷,加熱電流可1ps內(nèi)去除。Zthjc,Zthja測試能力。Rth顯示范圍0.001~10.000。積分、微分結(jié)構(gòu)函數(shù)曲線。

         

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        半導(dǎo)體熱特性試驗系統(tǒng)ST-PCX

        性能規(guī)格·系統(tǒng)部件

        液冷板

        本設(shè)備配置3個液冷板,液冷板的尺寸:300*200mm

        加熱電流

        1. 3臺品牌電源

        2. 輸出電壓范圍:0~10V,精度:額定電壓的0.05%

        3. 輸出電流范圍:0~1000A,精度:額定電流的0.3%

        4. 3臺電源并聯(lián)后,MAX輸出電流可達(dá)3000A

        5. 該加熱電流源用于熱阻測試和功率循環(huán)

        IM測試電流源

        1. 數(shù)量:3路(每個通道對應(yīng)1路)

        2. 電壓16V,電流10mA~1000mA,控制精度≦0.5/±0.2mA;n溫度范圍(TA/Ta/TC/TL):10.0℃~200℃,精度:0.2%±0.2℃

        3. 該電流源用于穩(wěn)態(tài)熱阻測試、瞬態(tài)熱阻測試、功率循環(huán)

        電壓測量單元

        1. 數(shù)量:12套(每個器件對應(yīng)1套)

        2. 電壓測量范圍:0.02V~4.000V

        3. 分辯率:10uV;

        4. 測量精度:≦±150uV(小于0.1mV±0.1%)

        5. 采檢間隔時間:最小1us

        輔助電源

        1. 數(shù)量:12套(每個器件對應(yīng)1套)

        2. 8套輔助電源均為不共地電源(浮地電源),每套電源包括1個-20V~+20V的可調(diào)電源

        溫度測量裝置

        1. 數(shù)量:24路(每個通道8路,共計24路)

        2. 冷板:進(jìn)水口、出水口、平臺中心K型熱電偶監(jiān)測器件TC

        3. 一組Tc用外接備用熱電偶

        4. 預(yù)留溫度接口:每個通道預(yù)留3路溫度接口,可接Pt100、熱敏電阻等

        5. 溫度測量范圍:0℃~200℃,精度:0.2%±0.2℃

        工控機(jī)系統(tǒng)

        1. 系統(tǒng)配置研華工控機(jī)一臺

        2. CPU:I5-6200u

        3. 硬盤:512G,至少可存儲連續(xù)試驗一年的測試數(shù)據(jù)

        4. 內(nèi)存:4G

        5. 顯示屏:21寸,分辯率:1920*1080高清

        開關(guān)控制

        1. 數(shù)量:3套

        2. 用于熱阻測試和功率循環(huán)試驗時對加熱電流的開通和關(guān)斷;Ton/Toff時間:0.5秒~999秒

        3. 小于50ms的脈沖開啟時間

        4. 小于100us脈沖關(guān)閉時間

        K系數(shù)測試單元

        K系數(shù)獨立測試單元,包括一個溫度可程控的高溫試驗箱,一個K系數(shù)測試單元,一塊測試板。(可測MOSFET的K系數(shù),二極管的K系數(shù))

         

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        半導(dǎo)體熱特性試驗系統(tǒng)ST-PCX

        性能規(guī)格·熱阻單元

        穩(wěn)態(tài)熱阻

        1. 結(jié)溫和殼溫Rthjc=(Tj-Tc)/Pw;

        2. 參考標(biāo)準(zhǔn):MIL-STD-750-3100

        3. 測試電流:范圍10~1000mA,精度≤1%±0.1mA,分辨率0.1mA;

        4. 加熱電流:范圍0~1000A,精度≤0.1%Set±0.3%range;,分辨率0.1A;

        5. 正向壓降VF測量范圍:0.0200V~4.0000V,

        6. 測量精度:≤±150uV,顯示精度:10uV;

        7. 電壓測量頻率:1MHZ,每次取樣間隔時間:最小1us

        8. 結(jié)溫測量精度:≤0.1℃

        9. 恒溫系統(tǒng):范圍-20~200℃,穩(wěn)定度±0.01℃,分辨率0.01℃;

        10. 溫度范圍(TA/Ta/TC/TL):10.0℃~200℃,精度:0.2%±0.2℃;

        11. 每次最多只能對1個器件測量穩(wěn)態(tài)熱阻。

        12. 測量方法:關(guān)斷加熱電流快速采樣電壓值,根據(jù)K系數(shù)曲線及采樣間隔時間,算關(guān)斷瞬間結(jié)溫值,測穩(wěn)態(tài)工作的TA/Ta/TL/TC值,得穩(wěn)態(tài)熱阻值。

        瞬態(tài)熱阻

        1. 雙界面法測量,參考標(biāo)準(zhǔn):JESD51-14

        2. 測試電流:范圍10~1000mA,精度≤1%±0.1mA,分辨率0.1mA;

        3. 加熱電流:范圍0~1KA,精度s0.1%Set±0.3% range;,分辨率0.1A;

        4. 正向壓降VF測量范圍:0.0200V~4.0000V,

        5. 測量精度:≤±150uV,顯示精度:10uV;

        6. 電壓測量頻率:1MHZ,每次取樣間隔時間:最小1us

        7. 結(jié)溫測量精度:≤0.1℃

        8. 恒溫系統(tǒng):范圍-20~200℃,穩(wěn)定度±0.01℃,分辨率0.01℃;

        9. Zthjc、Zthja測試能力;

        10. 顯示積分、微分結(jié)構(gòu)函數(shù)曲線

         

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        性能規(guī)格·功率循環(huán)

        1.設(shè)備能力

        1. 整機(jī)配置3個測試通道,每個通道4顆器件,整機(jī)共可同時測試8顆器件

        2. 測試電流:范圍10~1000mA,精度≦0.5%±0.2mA,分辨率0.1mA

        3. 加熱電流:范圍0~1000A,精度≦0.1%±0.3%分辨率0.1A

        4. 2通道并聯(lián)后可提供MAX2000A電流能力

        5. 正向壓降VF測量范圍:0.0200V~4.0000V

        6. 測量精度:≦±150uV,顯示精度:10uV

        7. 電壓測量頻率:1MHZ,每次取樣間隔時間:最小1us

        8. 具有秒級(PCsec)和分鐘級(PCmin)試驗?zāi)芰?

        9. 試驗過程中測量瞬態(tài)熱阻,并生成微分積分結(jié)構(gòu)函數(shù),觀察試驗過程中熱阻變化情況。通過結(jié)構(gòu)函數(shù),快速得到循環(huán)過程中的缺陷、及對應(yīng)的 循環(huán)次數(shù),失效原因等

        2.PCsec

        1. 結(jié)溫測試:變速采樣,MAX1MHz,精度1℃,分辨率0.1℃

        2. 殼溫測試:采樣速度1KHz,精度2℃,分辨率0.1℃

        3. 典型條件:0.5s<tcycle<10s,Tjmax=150℃,ΔTjmax=80K,130,000cycles

        4. 老化模式:恒電流(最嚴(yán)酷),恒定結(jié)溫Tjmax/ΔTjmax,恒定功率P

        5. 數(shù)據(jù)記錄:加熱電流IH,Ton,Toff,Tjmax,ΔTj,Tjmin,進(jìn)水口、出水口溫度Tw,水流量F,冷板溫度,循環(huán)數(shù),熱阻值

        3.PCmin

        1. 結(jié)溫測試:變速采樣,MAX1MHz,精度1℃,分辨率0.1℃

        2. 殼溫測試:采樣速度1KHz,精度2℃,分辨率0.1℃

        3. 典型條件:2min<tcycle<6min,TCmin=25℃,ΔTjmax=80K,2,000~5,000cycles

        4. 老化模式:恒電流(最嚴(yán)酷),恒定結(jié)溫TCmin/ΔTC,恒定功率P

        5. 數(shù)據(jù)記錄:加熱電流IH,Ton,Toff,Tcmax,ΔTc,Tcmin,進(jìn)水口、出水口溫度Tw,水流量F,冷板溫度,循環(huán)數(shù),熱阻值

        4.工作模式

        多種工作模式:恒電流、恒功率、恒結(jié)溫差、恒殼溫差、恒開關(guān)時間

        5.器件固定

        導(dǎo)軌及鎖緊夾具。DUT與冷板之間需有導(dǎo)熱硅脂

         

         

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