產(chǎn)品詳情
環(huán)境老化試驗系統(tǒng)ST-HTXB
陜西天士立科技有限公司
專注半導(dǎo)體檢測·電學(xué)檢測·可靠性檢測·老化實驗
環(huán)境老化試驗系統(tǒng)ST-HTXB
基礎(chǔ)信息
1. 適用于各種封裝類型的Diode、BJT、MOS-FET、SCR、橋堆、IGBT單管/模塊、IPM模塊等環(huán)境老化試驗
2. 包括高溫反偏/HTRB,高溫柵偏/HTGB,高溫高濕反偏試
3. 驗/H3TRB,其中HTRB和HTGB可二合一
4. 漏電流檢測1nA~20mA,高壓2000V@3000V
陜西天士立科技有限公司
專注半導(dǎo)體檢測·電學(xué)檢測·可靠性檢測·老化實驗
環(huán)境老化試驗系統(tǒng)ST-HTXB
主要配置
陜西天士立科技有限公司
專注半導(dǎo)體檢測·電學(xué)檢測·可靠性檢測·老化實驗
環(huán)境老化試驗系統(tǒng)ST-HTXB
性能指標
環(huán)境老化試驗系統(tǒng)ST-HTXB
陜西天士立科技有限公司
專注半導(dǎo)體檢測·電學(xué)檢測·可靠性檢測·老化實驗