產(chǎn)品詳情
晶體管動(dòng)態(tài)特性測(cè)試系統(tǒng)STA1200
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陜西天士立科技有限公司
專注半導(dǎo)體檢測(cè)·電學(xué)檢測(cè)·可靠性檢測(cè)·老化實(shí)驗(yàn)
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晶體管動(dòng)態(tài)特性測(cè)試系統(tǒng)STA1200
基礎(chǔ)信息
高壓源：1200V（選配2000V）
高流源：100A（選配200A/300A/500A）
驅(qū)動(dòng)電壓：±20V（選配±30V）
時(shí)間分辨率：1ns（選配400ps/200ps/100ps）
系統(tǒng)雜感：＜20nH
測(cè)試對(duì)象：Si（SiC/GaN）IGBT,Diode,MOSFET（選配BJT）
變溫測(cè)試：常溫~150℃/200℃
感性負(fù)載：程控電感（0.01~160mH，步進(jìn)10uH）?
阻性負(fù)載：程控電阻（1Ω,2Ω,5Ω,10Ω,50Ω）備用三個(gè)
測(cè)試管型：可以測(cè)試N溝道和P溝道的IGBTs,MOSFETs
測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：IEC60747-9/IEC60747-2，GB/T29332/GB/T4023
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晶體管動(dòng)態(tài)特性測(cè)試系統(tǒng)STA1200
試驗(yàn)原理舉例
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晶體管動(dòng)態(tài)特性測(cè)試系統(tǒng)STA1200
技術(shù)特點(diǎn)
1.?專注寬禁帶功率器件動(dòng)態(tài)參數(shù)評(píng)測(cè)，軟件程控，測(cè)試條件界面化輸入，系統(tǒng)閉環(huán)處理，自動(dòng)調(diào)節(jié)一鍵測(cè)試
2.?采用光纖驅(qū)動(dòng)信號(hào)通訊，響應(yīng)速度快，抗干擾能力強(qiáng)
3.?自動(dòng)加熱可由室溫~200℃，精度±0.1℃
4.?測(cè)試結(jié)果Excel，JPEG波形，波形任意縮放細(xì)節(jié)展寬分析
5.?測(cè)試主功率回路寄生電感Ls<10nH(實(shí)測(cè))
6.?柵極驅(qū)動(dòng)電阻Rg端口開放，按設(shè)定條件匹配電阻
7.?DualARM控核，DSP數(shù)據(jù)采樣計(jì)算，極大減少控制時(shí)延誤差
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晶體管動(dòng)態(tài)特性測(cè)試系統(tǒng)STA1200
試驗(yàn)?zāi)芰?/b>
標(biāo)配：開通特性測(cè)試單元/Turn_ON
標(biāo)配：關(guān)斷特性測(cè)試單元/Turn_OFF
標(biāo)配：二極管反向恢復(fù)測(cè)試單元/Trr
標(biāo)配：柵電荷測(cè)試單元/Qg¨
選配：容阻測(cè)
試單元/CR¨
選配：短路測(cè)試單元/SC¨
選配：雪崩測(cè)試單元/UIS¨
選配：安全工作區(qū)單元/SOA¨
選配：動(dòng)態(tài)電阻單元/
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晶體管動(dòng)態(tài)特性測(cè)試系統(tǒng)STA1200
參數(shù)指標(biāo)
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√?標(biāo)配（阻性/感性）開關(guān)測(cè)試單元 / Turn_ON/OFF |
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漏極電壓： 5V-1200V， 分辨率 1V |
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漏極電流： 1A-100A， 分辨率1A； |
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柵極驅(qū)動(dòng)：?±20V （選配±30V），?分辨率 0.1V |
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柵極電流： 2A/MAX |
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脈沖寬度： 1us-500us,步進(jìn) 0.1us |
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時(shí)間精度：?1ns |
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感性負(fù)載： 0.01mH-160mH 程序控制， 步進(jìn)?10uH |
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阻性負(fù)載： 1Ω、2Ω、5Ω、10Ω、50Ω?, ?程控， 備用三個(gè)電阻 |
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開關(guān)時(shí)間：?ton/toff： 1-10000ns分辨率1ns （選配400/200/100ps） |
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開關(guān)延遲：?td(on)/td(off）：?0.1-10000ns@1ns （選配400/200/100ps） |
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上下時(shí)間/tr/tf： 1-10000ns分辨率1ns （選配400/200/100ps） |
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開關(guān)損耗/?Eon/Eoff： 1-2000mJ 最小分辨率?1uJ |
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√?標(biāo)配 ?柵極電荷單元 / Qg |
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驅(qū)動(dòng)電流： 0-2mA， 分辨率 0.01mA |
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2-20mA， 分辨率 0.1mA |
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20mA-200mA， 分辨率?1mA |
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柵極電壓：?±20V （選配±30V） @0.1V |
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恒流源負(fù)載： 1-25A， 分辨率0.1A |
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25-100A(選配200A/300A)@1A |
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漏極電壓： 5-100V， 步進(jìn) 0.1V |
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100-1200V， 步進(jìn)?1.0V |
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柵極電荷 Qg：?1nC-100μC |
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漏極電荷 Qgs：?1nC-100μC |
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源極電荷 Qgd：?1nC-100μC |
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平臺(tái)電壓 Vgp： 0~30V， 分辨率 0.1V |
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√?標(biāo)配 ?二極管反向恢復(fù)測(cè)試單元 / Qrr_FRD |
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正向電流： 1A-25A， 分辨率 0.1A |
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25A-100A （選配200A/300A） 分辨率?1A |
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反向電壓： 5v-100V， 步進(jìn) 0.1V |
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100V-1200V， 步進(jìn)?1.0v |
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反向恢復(fù)時(shí)間 Trr： 1-10000ns， 最小分辨率1ns （選配400/200/100ps） |
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反向恢復(fù)電荷 Qrr： 1nC-100μC， 最小分辨率?1nC； |
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反向恢復(fù)電流?Irm： 1A-100A （選配200A/300A）； |
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反向恢復(fù)損耗?Erec： 1-2000mJ， 最小分辨率?1uJ； |
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電流下降率 dif/dt： 50-1kA/us； |
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電壓變化率 dv/dt： 50-1kV/us。 |
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¨?選配 ?短路特性測(cè)試單元/ SC |
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電流： 1000A/MAX |
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脈寬： 1us~100us |
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柵驅(qū)電壓：?±20V （選配±30V） @0.1V |
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漏極電壓： 5V~100V， 0.1V 分辨率 |
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100V~1200V， 1.0V 分辨率 |
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¨?選配 ?雪崩測(cè)試單元 /?UIS |
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雪崩耐量/EAS： 100J |
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雪崩擊穿電壓/2500V |
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雪崩電流/IAS： 1.0-400A 分辨率?1.0A |
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感性負(fù)載/0.01-160mH@10μH， 程控可調(diào) |
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¨?選配 ?容阻測(cè)試單元 / CR |
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掃頻范圍： 0.1MHz～5MHz |
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漏源極電壓：?1200V， 分辨率?1V |
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¨?選配 ?動(dòng)態(tài)電阻Ron,dy
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