宜興西門子模擬直流調(diào)速器維修公司然后暴露在高濕度下以降低SIR。此測(cè)試要求產(chǎn)品在吸濕后通過(guò)功能測(cè)試。表3中列出了一些標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試粉塵，例如ISO和ASHREA測(cè)試粉塵。它們旨在用于測(cè)試空氣過(guò)濾器和空氣濾清器。它們?nèi)堪艽蟊壤ǜ?00％）的天然土塵，是從ArizonaTestDust中以原始形式獲得的。亞利桑那州測(cè)試粉塵是指在亞利桑那州鹽河谷地區(qū)作業(yè)的拖拉機(jī)或農(nóng)具之后或周圍從空中沉降的塵埃。表4列出了Arizona測(cè)試粉塵的成分。表標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試粉塵測(cè)試粉塵的成分Arizona測(cè)試碳黑磨碎的棉粉塵短絨ISO12103-1，A1100％超細(xì)試驗(yàn)粉塵（1-20um）ISO12103-1，A2100％細(xì)試驗(yàn)粉塵（1-120um）ISO12103-1。

那么如何尋找問(wèn)題的根源呢？將您的驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)視為一組協(xié)調(diào)工作的區(qū)域。當(dāng)系統(tǒng)出現(xiàn)問(wèn)題時(shí)，將系統(tǒng)分成幾部分以確定從哪里開(kāi)始查找。主要領(lǐng)域如下：

1、輸入系統(tǒng)
支路保護(hù)
來(lái)自電機(jī)控制中心的輸入接觸器（如果使用）
從電機(jī)控制中心或分支電路接線
直流調(diào)速器輸入（斷開(kāi)開(kāi)關(guān)或接觸器）
輸入橋

2、直流調(diào)速器本身
3、電機(jī)
電機(jī)過(guò)載??（如果使用）
電機(jī)接線和導(dǎo)管
電機(jī)斷開(kāi)（如果使用）
電機(jī)接線
電機(jī)本身

宜興西門子模擬直流調(diào)速器維修公司 而目前這種堆疊的厚度目標(biāo)為600μm，而對(duì)于剛性8層板，厚度目標(biāo)將降至400μm。2013。當(dāng)前的工作表明，利用當(dāng)前的材料和可用的制造方法，已經(jīng)可以構(gòu)建具有8層堆積，大厚度小于500μm的剛性苯胺層直流調(diào)速器。為了實(shí)施這些板，成功地采用了不同的制造方法。一方面，高端HDI工藝與通孔填充步驟相結(jié)合，另一方面，ALIVH技術(shù)。此外，還表明，純ALIVH與外層HDI的結(jié)合，即所謂的ALIVH-C工藝，也可以成功應(yīng)用。制造的板厚度在443和512μm之間。AT＆S擁有將20年的ALDIHHDI制造經(jīng)驗(yàn)，并于2011年獲得許可和引入。因此，尤其是ALIVH技術(shù)有望為改善薄板制造提供更多潛力?？傮w而言，在此研究中構(gòu)建的樣本的可靠性行為被認(rèn)為是可以接受的。

直流調(diào)速器輸入問(wèn)題可能會(huì)導(dǎo)致許多故障。由于線路浪涌或暫降，直流調(diào)速器可能會(huì)出現(xiàn)過(guò)壓或欠壓跳閘?；蛘?，直流調(diào)速器可能會(huì)出現(xiàn)過(guò)流跳閘或可能與電機(jī)相關(guān)的故障，例如過(guò)載。

但是除非有特殊要求，否則通常設(shè)計(jì)一個(gè)偶數(shù)層的多層板，將一層均勻的電路板縮減一層似乎是節(jié)省成本的舉動(dòng)，但從直流調(diào)速器的角度來(lái)看并非如此，實(shí)際上，這可能會(huì)增加成本以及交貨時(shí)間，并使您留有翹曲的直流調(diào)速器板。。 而不會(huì)影響電路板的性能，弓和扭曲的其他影響其他因素會(huì)影響電路板制造中的彎曲度，包括:附加零件號(hào)特征電路板層數(shù)更多(附加材料=附加熱處理)材料混合(即，使用帶有標(biāo)準(zhǔn)FR4的高頻PTFE層壓板來(lái)控制阻抗值。。 消費(fèi)電子，工業(yè)，汽車，航空和設(shè)備制造商都希望它[更輕，更緊湊，更耐用，更強(qiáng)大"，而且，順便說(shuō)一下，它們的價(jià)格都更低，這就要求產(chǎn)品必須按照嚴(yán)格的標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行設(shè)計(jì)，測(cè)試和制造，才能滿足日益苛刻的市場(chǎng)的期望。。

宜興西門子模擬直流調(diào)速器維修公司從而促進(jìn)金屬在電場(chǎng)下的遷移。塵埃2沉積的測(cè)試板上的ECM顯示金屬在纖維94上的遷移塵埃1沉積的測(cè)試板上的第三短TTF為115小時(shí)。四個(gè)測(cè)試板中的兩個(gè)被暫停。在SEM下，該組中有故障和無(wú)故障的板均在10多個(gè)位置觀察到腐蝕（見(jiàn)36）。這是因?yàn)槿绻g產(chǎn)物沒(méi)有跨接在兩個(gè)相鄰的電極上，則阻抗下降不會(huì)達(dá)到破壞標(biāo)準(zhǔn)。在腐蝕區(qū)域檢測(cè)到了銅和氯。可以認(rèn)為，Cl從粉塵污染中溶解并引起銅的腐蝕?；覊m1沉積的測(cè)試板上的腐蝕。在四組中，沉積有灰塵4的測(cè)試板的均TTF高，為119小時(shí)。測(cè)試期間只有一塊板失敗。除故障板中的一個(gè)位置外，未觀察到腐蝕或ECM。失效部位的光學(xué)和SEM像均顯示在37中。觀察到金屬遷移。在遷移區(qū)域檢測(cè)到了銅和溴。xdfhjdswefrjhds