產(chǎn)品詳情
江陰BAUMULLER變頻調(diào)速器維修實力技術(shù) 中或高可制造性,NASA應(yīng)用中使用的大部分層壓材料是基于聚酰亞胺的玻璃增強材料,聚酰亞胺的玻璃化轉(zhuǎn)變溫度高達200°C以上,面外方向的熱膨脹系數(shù)接近55ppm/°C,面內(nèi)CTE接近15ppm/°C,這些熱性能與通常焊接到板上的陶瓷微電路具有良好的匹配性。。開始在系統(tǒng)中查找問題的方法是采用系統(tǒng)范圍的方法。這聽起來有點簡單,但讓我們看看方法。在診斷驅(qū)動系統(tǒng)中的故障跳閘時,請從基本的預(yù)防性維護概述開始。制定一個好的 PM 計劃的步驟是必不可少的。
如9所示。自然灰塵粒子以均密度大約為25分布在測試紙上(Au/Ni/Cu)。3200/cm2通過39個定制的集塵室實現(xiàn)。灰塵室的簡化如10所示?;覊m顆粒被送入灰塵填充器。串聯(lián)連接的電風扇通過氣流管道將顆粒吹入粉塵混合室,后進入粉塵沉積室約三分鐘。然后停止風扇,使灰塵顆粒在灰塵沉積室內(nèi)自由下落約30分鐘。將測試片水放置以容納灰塵顆粒。測試證實,灰塵確實會在一定溫度和相對濕度下引起腐蝕。濕熱實驗中溫度和相對濕度的變化[10]除塵室的簡化[10]THB是評估SIR損失和電化學遷移失效的標準測試方法[12]。通常使用的測試條件是85℃和85%RH。但是,認為較低的溫度更為合適。較高的溫度實際上會降低腐蝕的可能性。
江陰BAUMULLER變頻調(diào)速器維修實力技術(shù)
1、檢查進入直流調(diào)速器的線路電壓和電流。這些電壓應(yīng)平衡在百分之五以內(nèi)。不平衡的線電壓會導(dǎo)致嚴重的問題。接下來檢查進入直流調(diào)速器輸入的電流。
電流水平可能會因相位而有所不同,而不會引起太多關(guān)注,但有可能會發(fā)現(xiàn)一條線路完全死機。請記住,今天的大多數(shù)直流調(diào)速器仍然可以在缺少一相輸入功率的情況下運行電機。
2、檢查直流調(diào)速器輸出的電壓和電流。直流調(diào)速器產(chǎn)生去往電機的波形。在大多數(shù)直流調(diào)速器上,來自逆變器部分的電壓應(yīng)在幾伏內(nèi)平衡,電流也應(yīng)平衡。較大的變化會導(dǎo)致電機劇烈搖晃,并可能導(dǎo)致電機問題。
這些是確定任何給定直流調(diào)速器問題的基本步。這個過程應(yīng)該定期進行。如果遵循這些程序,則可以消除大多數(shù)問題,并且直流調(diào)速器應(yīng)該可以提供多年的無故障服務(wù)。
鰭片增加了暴露于空氣中的有效表面積。通過使用風扇強制組件周圍的空氣流通,可以進一步提高冷卻效率,見圖6.25。對流系數(shù)通常隨風速v隨vn的增加而增加,其中指數(shù)n從v>1m/sec(層流)的0.33增加到v<5m/sec(湍流)時的0.8[6.18]。通過在“散熱孔”處進行焊接,可以大大改善從組件封裝到散熱器的熱接觸,即從PWB表面到內(nèi)部金屬芯的金屬化孔,如圖6.26所示。在陶瓷或塑料封裝內(nèi)部使用了類似的散熱孔或金屬柱,以改善從Si芯片到封裝表面的熱接觸。6.27LeifHalbo和PerOhlckers:電子元器件,包裝和生產(chǎn)圖6.a):帶散熱片的針柵封裝。b):強制風冷[6.15]下測得的組件的熱阻。
現(xiàn)代直流調(diào)速器非??煽?。隨著半導(dǎo)體技術(shù)的進步和總線電容器性能的提高,以前困擾直流調(diào)速器制造商的許多問題幾乎都消失了。所有主要的直流調(diào)速器制造商都制造了相對堅固和可靠的直流調(diào)速器。最小的內(nèi)部故障發(fā)生?,F(xiàn)在,直流調(diào)速器之外的問題會導(dǎo)致大量直流調(diào)速器故障,并且是導(dǎo)致誤跳閘的主要原因。
江陰BAUMULLER變頻調(diào)速器維修實力技術(shù)ECM和腐蝕都是金屬離子從電極中溶解的結(jié)果。ECM工藝包括一系列步驟,包括路徑形成,金屬溶解,離子遷移,金屬沉積和枝晶生長,其中粉塵污染會導(dǎo)致路徑形成和金屬溶解步驟。在路徑形成步驟中,灰塵可以吸收大量的水以形成連續(xù)的水膜作為導(dǎo)電路徑。灰塵污染物中的反應(yīng)離子溶解到水膜中,然后與金屬反應(yīng),導(dǎo)致金屬溶解。從灰塵溶解到水膜中的所有離子種類都可以增加電導(dǎo)率,從而降低阻抗,但是,只有反應(yīng)性離子才能引起金屬溶解,因此只有這些離子在金屬溶解步驟中會促進ECM或腐蝕。在評估ECM和腐蝕破壞時,應(yīng)同時考慮灰塵中的離子種類和灰塵對水分的吸附能力。113ISO測試粉塵(粉塵4)與從現(xiàn)場收集的天然粉塵(粉塵2和3)有很大不同。xdfhjdswefrjhds